离子迁移CAF评估系统，也称为绝缘电阻劣化评估系统，是一种信赖性试验设备。它的主要原理是在印刷电路板上给予一固定的直流电压，经过长时间的测试（1～1000小时），并观察线路是否有瞬间短路的现象发生，同时记录电阻值变化状况。这个过程通常被称为CAF试验、绝缘阻力电阻试验或绝缘劣化试验。
HAST绝缘电阻劣化(离子迁移CAF)具有多种特点，包括：
高机能：采用驱动计测技术，测试时焊接工序大幅减少。
软件设计简单明了，直观易操作。
远程监控功能，可监控试验过程。
便利性高：构造装着脱落式，易进行保养交换。
测试自检功能：点检、校正方便。
设计精巧，不受场所限制，易移动。