大佬们，小弟有一个问题，关于硅基氮化镓LED的出光强度，在不剥离衬底的情况下，怎么能较为准确的测量呢。如果是多种不同的外延结构，即使MQWs的发出的光子相同，也会因为不同外延结构造成的反射率、吸光等不同，反映出来的光强也不同。所以想咨询各位大佬，有没有什么办法可以消除不同外延结构带来的影响，在不剥离衬底的情况下，得到较为准确的评估结果呢