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0透射电子显微镜TEM在LED芯片研究中可以提供有关LED芯片结构、膜层厚度、位错缺陷等方面的详细信息。不同类型的芯片结构在工艺设计上有所不同,金属电极与外延各层成分分析与厚度测量常常需要通过TEM分析才能获得更加精确的信息。 电极结构是为了让电流顺利流向发光区,不同电极材料结构同样影响着芯片的光电性能,如Cr因优良的粘附性常用做与p-GaN的接触层,Al具有高反射率,增加芯片的出光量,Ti/Pt作为阻挡层防止Au扩散高活泼性的Al层,Au优
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0在化学分析、生物检测和材料科学等领域,吸光度与透光度是两个至关重要的光学参数。它们不仅是理解物质光学特性的基础,更是实现精准检测与质量控制的关键工具。 什么是吸光度? 吸光度(Absorbance),也被称为光密度(Optical Density,OD),是指物质对光的吸收程度。当光线通过一种物质(可以是气体、液体或固体)时,部分光线会被物质吸收。吸光度是通过测量入射光和透过光的强度来确定的。具体来说,它是入射光强度与透过光强度比值的
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0氩离子抛光技术又称CP截面抛光技术,是利用氩离子束对样品进行抛光,可以获得表面平滑的样品,而不会对样品造成机械损害。去除损伤层,从而得到高质量样品,用于在SEM,光镜或者扫描探针显微镜上进行成像、EDS、EBSD、CL、EBIC或其它分析。 应用范围 1.锂电池领域在锂电池领域,氩离子束抛光技术主要应用于电极片的制备。锂电池的性能和寿命与其电极材料的微观结构密切相关。氩离子束抛光技术能够清晰地展示正极片和负极片的微观结构,为
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0REACH法规的背景与目标 REACH法规,即“化学品注册、评估、许可和限制”法规,是欧盟于2007年6月1日正式实施的一项具有里程碑意义的化学品管理法规。这一法规的出台旨在通过一套全面的管理框架,对进入欧盟市场的所有化学品进行预防性管理,以确保人类健康和环境安全。 1.保护人类健康和环境免受化学品潜在危害的影响。 2.保持和加强欧盟化学工业的竞争力,促进创新和可持续发展。 3.防止内部市场的分裂,确保化学品市场的公平竞争。 4.增加
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0什么是机械冲击试验 机械冲击试验是一种模拟产品在实际使用、运输和存储过程中可能遭受的冲击环境的实验室检测方法。其核心在于通过模拟突发、急剧且非周期性的冲击,评估产品在极端条件下的功能表现和性能失效情况。机械冲击的特征表现为持续时间极短,冲击过程为一次性,不呈现周期性。这种冲击通常源自弹性体之间的机械撞击,例如车辆制动、货物搬运碰撞等场景,其脉冲持续时间短,加速度较大,对产品的结构完整性和功能稳定性
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0静电放电(ESD)是电子元器件在运输、安装和使用过程中常见的一种现象,它可能导致器件损坏、性能降低或寿命缩短。因此,对电子元器件进行ESD试验至关重要,以确保其在实际应用中的可靠性和稳定性。AEC-Q102标准中包含了多种ESD试验,其中人体模型(HBM)试验是最为常见的一种。 什么是HBM试验? HBM试验,即人体模型试验,是一种评估电子器件对由人体产生的静电放电的耐受能力的方法。在HBM试验中,模拟人体通过接触或近距离放电到器件上的
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0透射电镜的样品种类 透射电镜(TEM)的样品类型多样,涵盖了粉末试样、薄膜试样、表面复型和萃取复型等多种形式。粉末试样主要用于粉末材料的形貌观察、颗粒度测定及结构与成分分析等。薄膜试样则侧重于研究样品内部的组织、结构、成分、位错组态和密度、相取向关系等。表面复型和萃取复型主要用于金相组织观察、断口形貌、形变条纹、第二相形态、分布和结构等方面的分析。 透射电镜工作原理 透射电子显微镜(TEM)是一种高分辨率的显
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0锂离子电池作为新一代绿色高能电池,凭借其卓越的性能,在新能源汽车等高新技术领域占据着举足轻重的地位。随着新能源汽车行业的蓬勃发展,锂电池材料的需求与应用前景呈现出持续向好的态势。 锂离子电池的优势 1.高能量密度在相同的体积或重量下,锂离子电池能够储存更多的电能,为新能源汽车提供更长的续航里程。 2.长循环寿命在多次充放电循环后,电池的容量衰减速度相对较慢,这不仅延长了电池的使用寿命,还降低了用户的长期使
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0机械冲击试验是力学环境试验中极为关键的检测手段。它以瞬间性和破坏性为特点,主要用于评估电工电子元器件、设备及其他产品在实际使用和运输过程中抵御非多次重复机械冲击的能力。通过该试验,可以判断产品对冲击环境的适应性和结构的完整性。 冲击方向的确定 在进行机械冲击试验时,冲击方向的确定是基础且关键的一步。通常情况下,冲击测试的方向涵盖三个相互垂直的正反向,具体而言,即为 X 轴正方向、X 轴反方向、Y 轴正方向、Y
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0聚焦离子束(FIB)技术概览 聚焦离子束(Focused Ion Beam,FIB)技术在微观尺度的研究和应用中扮演着重要角色。这种技术以其超高精度和操作灵活性,允许科学家在纳米层面对材料进行精细的加工与分析。 FIB切片技术基础 FIB切片技术的核心在于使用一束高能量的离子束对样本进行精确的切割。这一过程开始于离子源产生离子束,随后通过聚焦透镜和扫描电极的引导,形成细锐的离子束。这束离子在样本表面精确聚焦并扫描,通过物理轰击和化学作用
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0什么是静电放电(ESD) Electro-Static Discharge,是指在特定环境下,由于静电的积累到达一定程度后,电荷以迅速释放的方式恢复电平衡的现象。这种放电可能由接触、摩擦或感应等多种方式引发。ESD的特点是电荷积累时间长、放电电压高、涉及电量少、电流小且作用时间极短。 ESD的危害性 ESD对多个行业,尤其是半导体行业构成了严重威胁。据估计,约有40%的集成电路失效是由ESD引起的。在电子电器产品中,ESD是导致设备运行不稳定甚至损坏的主要原因
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0氩离子抛光技术作为一种先进的材料表面处理方法,该技术的核心原理是利用氩离子束对样品表面进行精细抛光,通过精确控制离子束的能量、角度和作用时间,实现对样品表面的无损伤处理,从而获得高质量的表面效果,适用于多种微观分析技术。 怎样利用氩离子抛光技术 氩离子抛光技术利用氩离子束对样品表面进行轰击,氩离子与样品表面原子发生弹性碰撞,使表面原子逐渐被移除。与传统的机械抛光不同,氩离子抛光不会引入机械应力,因此
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0金属含量测试分析的重要性及应用 金属含量测试是指对材料中各种金属元素的含量进行定量和定性分析的一种化学分析方法。金属化学成分分析和含量测试在工业生产、科学研究和质量控制中具有非常重要的应用价值。 首先,金属材料作为工业生产的重要基础材料,其成分和性能直接影响着产品的质量和性能。金属材料中的各种元素含量不同,会导致材料的力学性能、耐蚀性能、热处理性能等发生变化。因此,对材料进行金属含量测试分析,可以帮
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0邻苯二酯的定义与应用 邻苯二甲酸酯,作为化学领域的一类重要增塑剂,被大规模应用于工业生产中,以提升塑料材料的柔韧度和加工效率。这些化合物不仅在塑料制品中随处可见,也在涂料和个人护理用品中发挥着重要作用。然而,由于某些邻苯二甲酸酯可能对人体健康构成威胁,它们的使用已经受到了严格的限制。 对于出口至欧盟市场的企业而言,提供证明其产品中邻苯二甲酸酯含量达标的检测报告成为了一项常规要求。在PVC制品和涂料领域,
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0在电子制造领域,锡须是一种常见的物理现象,表现为在锡质表面自发生长的细长晶体。这些晶体类似于晶须,能在多种金属表面形成,但以锡、镉、锌等金属最为常见。锡须的形成对那些选择锡作为电路连接材料的制造商来说,是一个需要特别关注的问题。 锡须生长的根源探究 1.应力因素的探讨 锡须问题通常与电镀层内部的压缩应力有关。这种应力可能由多种因素引起,例如电镀过程中的化学反应、镀层厚度的不一致性、基底材料与锡的热膨胀系
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0安全检测认证的重要性 在电子产品的设计与制造过程中,安全性是不可忽视的核心要素。安全检测认证是确保电子产品在进入市场前满足安全标准的关键步骤。这些认证过程涵盖了模拟用户可能的使用情况,包括正常使用和异常使用,以评估产品可能带来的风险,如电击、火灾和机械伤害,并在产品出厂前通过设计预防这些风险。 国际安规体系概览 IEC:国际电工委员会,负责制定国际电工标准。UL:美国保险商实验室,提供产品安全认证。EN:欧洲
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0氩离子抛光技术凭借其独特的原理和显著的优势,在精密样品制备领域占据着重要地位。该技术以氩气为介质,在真空环境下,通过电离氩气产生氩离子束,对样品表面进行精准轰击,实现物理蚀刻,从而去除表面损伤层和不平整部分,达到高度平滑的效果。 氩离子抛光的优势 氩离子抛光的核心原理是利用氩气在真空环境下的电离特性。当氩气被引入真空腔体并施加高电压时,氩原子被电离成氩离子,形成高能离子束。这些氩离子在电场的作用下加
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0AEC-Q200认证概述化 AEC-Q200认证是由汽车电子协会(Automotive Electronics Council,简称AEC)制定的一套标准,其目的在于确保汽车电子部件的可靠性和质量。AEC是由克莱斯勒、福特和通用汽车等主要汽车制造商与美国主要部件制造商共同成立的组织,旨在为车载电子部件的可靠性和认定标准的规格化提供统一的标准。 AEC-Q200-Rev E标准更新 在2023年3月20日,AEC发布了最新的无源元件测试认证标准AEC-Q200-Rev E,这一标准的发布标志着汽车电子行业对无源元件的测试
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0聚焦离子束(Focused Ion Beam,简称 FIB)技术,宛如一把纳米尺度的“万能钥匙”,在材料加工、分析及成像领域大放异彩。它凭借高度集中的离子束,精准操控离子束与样品表面的相互作用,实现纳米级别的精细操作,为众多学科和工业领域带来了前所未有的机遇。 核心构成 FIB 系统的核心在于离子束的生成与调控。生成用于撞击样品的离子束,其中最为普遍的离子源类型为液态金属离子源,尤其是采用液态镓作为原料。 接下来是加速与偏转机制,该
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0氩离子束抛光技术(Argon Ion Beam Polishing, AIBP),一种先进的材料表面处理工艺,它通过精确控制的氩离子束对样品表面进行加工,以实现平滑无损伤的抛光效果。 技术概述 氩离子束抛光技术利用氩离子束对样品表面进行物理溅射,从而达到抛光的效果。在这个过程中,氩气作为惰性气体,不会与样品发生化学反应,保证了样品的原始性质不被破坏。通过精确控制离子束的能量、角度和作用时间,可以去除样品表面的损伤层,暴露出材料的真实结构。
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0浪涌电流的定义 浪涌电流是指电路在开启瞬间吸收的最大电流,通常出现在输入波形的几个周期内。其值远高于电路的稳态电流,这种高电流可能会对设备造成损坏,甚至触发断路器。浪涌电流常见于所有包含磁芯的设备中,例如变压器、工业电压设备等。 浪涌的产生原因 1.电力系统开关瞬态 1)主要的电力系统切换骚扰,例如电容器组的切换,电容瞬间放电或者充电; 2)配电系统中较小的局部开关动作或者负载变化; 3)与开关器件有关的谐振现
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0芯片开封的定义 芯片开封,即Decap,是一种对完整封装的集成电路(IC)芯片进行局部处理的工艺。其目的是去除芯片的封装外壳,暴露出芯片内部结构,同时确保芯片功能不受损。芯片开封是芯片故障分析实验的重要准备环节,能够保护芯片的Die、bond pads、bond wires及lead等关键部分,为后续的失效分析测试提供便利,便于进行热点定位、聚焦离子束(FIB)等测试操作。 芯片开封的方法 1.激光开封激光开封是利用激光束的能量作用于芯片塑封表面,通
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0电气设备在现代生产中的广泛应用极大地提升了生产效率,但同时也带来了潜在的安全风险。触电事故和电气火灾的发生,使得电气设备的安全性成为产品质量的首要考量因素。 耐压测试 耐压测试,也称为介电强度测试,是一种用于检验电气设备绝缘强度的重要手段。它通过施加高于设备正常工作电压的高电压,模拟设备在极端情况下的运行状态,从而检测绝缘材料是否能够承受正常工作电压以及短时过电压的冲击。耐压测试的主要目的是发现绝缘
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