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    透射电子显微镜TEM在LED芯片研究中可以提供有关LED芯片结构、膜层厚度、位错缺陷等方面的详细信息。不同类型的芯片结构在工艺设计上有所不同,金属电极与外延各层成分分析与厚度测量常常需要通过TEM分析才能获得更加精确的信息。 电极结构是为了让电流顺利流向发光区,不同电极材料结构同样影响着芯片的光电性能,如Cr因优良的粘附性常用做与p-GaN的接触层,Al具有高反射率,增加芯片的出光量,Ti/Pt作为阻挡层防止Au扩散高活泼性的Al层,Au优
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    在化学分析、生物检测和材料科学等领域,吸光度与透光度是两个至关重要的光学参数。它们不仅是理解物质光学特性的基础,更是实现精准检测与质量控制的关键工具。 什么是吸光度? 吸光度(Absorbance),也被称为光密度(Optical Density,OD),是指物质对光的吸收程度。当光线通过一种物质(可以是气体、液体或固体)时,部分光线会被物质吸收。吸光度是通过测量入射光和透过光的强度来确定的。具体来说,它是入射光强度与透过光强度比值的
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    氩离子抛光技术又称CP截面抛光技术,是利用氩离子束对样品进行抛光,可以获得表面平滑的样品,而不会对样品造成机械损害。去除损伤层,从而得到高质量样品,用于在SEM,光镜或者扫描探针显微镜上进行成像、EDS、EBSD、CL、EBIC或其它分析。 应用范围 1.锂电池领域在锂电池领域,氩离子束抛光技术主要应用于电极片的制备。锂电池的性能和寿命与其电极材料的微观结构密切相关。氩离子束抛光技术能够清晰地展示正极片和负极片的微观结构,为
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    温度测试是产品质量保证的关键环节,它通过模拟产品在不同温度条件下的使用环境,评估产品在极端高温、低温以及温度变化下的物理性能和其他相关特性。这些测试对于确保产品在各种气候条件下的可靠性和耐用性至关重要,是产品开发、质量控制和环境适应性评估中不可或缺的一部分。 高温测试 高温测试的目的在于检验产品在高温环境下的性能和稳定性。这种测试可以模拟产品在炎热气候中的存储、运输和使用情况,以确保产品在高温条件下
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    汽车安全的核心 汽车的车灯和光信号系统构成了车辆安全架构的核心要素。这些系统不仅直接涉及驾驶者和乘客以及行人的安全,还扮演着车辆之间、车辆与行人之间沟通的重要角色。它们通过光信号的传递,使得驾驶员能够有效地向周围的交通参与者表明自己车辆的位置、行驶状况以及驾驶计划。 维护道路交通秩序的关键 汽车照明系统的有效运作是保障道路交通安全与顺畅的关键。定期的检测和维护能够及时发现并解决潜在问题,确保汽车照明系
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    REACH法规的背景与目标 REACH法规,即“化学品注册、评估、许可和限制”法规,是欧盟于2007年6月1日正式实施的一项具有里程碑意义的化学品管理法规。这一法规的出台旨在通过一套全面的管理框架,对进入欧盟市场的所有化学品进行预防性管理,以确保人类健康和环境安全。 1.保护人类健康和环境免受化学品潜在危害的影响。 2.保持和加强欧盟化学工业的竞争力,促进创新和可持续发展。 3.防止内部市场的分裂,确保化学品市场的公平竞争。 4.增加
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    什么是机械冲击试验 机械冲击试验是一种模拟产品在实际使用、运输和存储过程中可能遭受的冲击环境的实验室检测方法。其核心在于通过模拟突发、急剧且非周期性的冲击,评估产品在极端条件下的功能表现和性能失效情况。机械冲击的特征表现为持续时间极短,冲击过程为一次性,不呈现周期性。这种冲击通常源自弹性体之间的机械撞击,例如车辆制动、货物搬运碰撞等场景,其脉冲持续时间短,加速度较大,对产品的结构完整性和功能稳定性
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    静电放电(ESD)是电子元器件在运输、安装和使用过程中常见的一种现象,它可能导致器件损坏、性能降低或寿命缩短。因此,对电子元器件进行ESD试验至关重要,以确保其在实际应用中的可靠性和稳定性。AEC-Q102标准中包含了多种ESD试验,其中人体模型(HBM)试验是最为常见的一种。 什么是HBM试验? HBM试验,即人体模型试验,是一种评估电子器件对由人体产生的静电放电的耐受能力的方法。在HBM试验中,模拟人体通过接触或近距离放电到器件上的
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    透射电镜的样品种类 透射电镜(TEM)的样品类型多样,涵盖了粉末试样、薄膜试样、表面复型和萃取复型等多种形式。粉末试样主要用于粉末材料的形貌观察、颗粒度测定及结构与成分分析等。薄膜试样则侧重于研究样品内部的组织、结构、成分、位错组态和密度、相取向关系等。表面复型和萃取复型主要用于金相组织观察、断口形貌、形变条纹、第二相形态、分布和结构等方面的分析。 透射电镜工作原理 透射电子显微镜(TEM)是一种高分辨率的显
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    锂离子电池作为新一代绿色高能电池,凭借其卓越的性能,在新能源汽车等高新技术领域占据着举足轻重的地位。随着新能源汽车行业的蓬勃发展,锂电池材料的需求与应用前景呈现出持续向好的态势。 锂离子电池的优势 1.高能量密度在相同的体积或重量下,锂离子电池能够储存更多的电能,为新能源汽车提供更长的续航里程。 2.长循环寿命在多次充放电循环后,电池的容量衰减速度相对较慢,这不仅延长了电池的使用寿命,还降低了用户的长期使
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    机械冲击试验是力学环境试验中极为关键的检测手段。它以瞬间性和破坏性为特点,主要用于评估电工电子元器件、设备及其他产品在实际使用和运输过程中抵御非多次重复机械冲击的能力。通过该试验,可以判断产品对冲击环境的适应性和结构的完整性。 冲击方向的确定 在进行机械冲击试验时,冲击方向的确定是基础且关键的一步。通常情况下,冲击测试的方向涵盖三个相互垂直的正反向,具体而言,即为 X 轴正方向、X 轴反方向、Y 轴正方向、Y
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    聚焦离子束(FIB)技术概览 聚焦离子束(Focused Ion Beam,FIB)技术在微观尺度的研究和应用中扮演着重要角色。这种技术以其超高精度和操作灵活性,允许科学家在纳米层面对材料进行精细的加工与分析。 FIB切片技术基础 FIB切片技术的核心在于使用一束高能量的离子束对样本进行精确的切割。这一过程开始于离子源产生离子束,随后通过聚焦透镜和扫描电极的引导,形成细锐的离子束。这束离子在样本表面精确聚焦并扫描,通过物理轰击和化学作用
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    什么是静电放电(ESD) Electro-Static Discharge,是指在特定环境下,由于静电的积累到达一定程度后,电荷以迅速释放的方式恢复电平衡的现象。这种放电可能由接触、摩擦或感应等多种方式引发。ESD的特点是电荷积累时间长、放电电压高、涉及电量少、电流小且作用时间极短。 ESD的危害性 ESD对多个行业,尤其是半导体行业构成了严重威胁。据估计,约有40%的集成电路失效是由ESD引起的。在电子电器产品中,ESD是导致设备运行不稳定甚至损坏的主要原因
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    氩离子抛光技术作为一种先进的材料表面处理方法,该技术的核心原理是利用氩离子束对样品表面进行精细抛光,通过精确控制离子束的能量、角度和作用时间,实现对样品表面的无损伤处理,从而获得高质量的表面效果,适用于多种微观分析技术。 怎样利用氩离子抛光技术 氩离子抛光技术利用氩离子束对样品表面进行轰击,氩离子与样品表面原子发生弹性碰撞,使表面原子逐渐被移除。与传统的机械抛光不同,氩离子抛光不会引入机械应力,因此
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    金属材料在现代工业和生活中被广泛应用,但其中某些化学元素可能对人体健康和环境造成危害。这些有害元素在金属材料的加工和使用过程中可能会释放出来,对工人和使用者的健康构成威胁。 有害化学元素及其危害 铅(Pb):是一种有毒重金属,对人体健康和环境都有显著危害。铅主要影响神经系统和内分泌系统,长期接触可能导致智力下降、贫血、生殖系统损害等问题。欧盟RoHS指令要求金属材料中的铅含量不得超过0.1%。汞(Hg):对大脑和神
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    金属含量测试分析的重要性及应用 金属含量测试是指对材料中各种金属元素的含量进行定量和定性分析的一种化学分析方法。金属化学成分分析和含量测试在工业生产、科学研究和质量控制中具有非常重要的应用价值。 首先,金属材料作为工业生产的重要基础材料,其成分和性能直接影响着产品的质量和性能。金属材料中的各种元素含量不同,会导致材料的力学性能、耐蚀性能、热处理性能等发生变化。因此,对材料进行金属含量测试分析,可以帮
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    在电子制造领域,PCB的质量直接影响到电子设备的性能与可靠性。 PCB红墨水试验的主要作用包括以下3个方面: 检测焊点完整性 焊点的完整性是PCB质量的关键指标之一。在PCB红墨水试验中,通过将PCB浸泡在红墨水中,可以利用红墨水的渗透性来检测焊点内部的情况。 工艺改进参考 红墨水试验能够真实、可靠地展示焊点裂缝的三维分布情况,为电子组装焊接质量的检验提供有力的分析手段。 帮助SMT工艺制造者和失效分析工程师了解产品的不良现象,
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    BSD技术:材料显微学的先进工具 电子背散射衍射(EBSD)技术是一种在材料科学领域广泛应用的显微学技术,它通过分析样品与高能电子束相互作用时产生的反射电子的角度和相位差,来确定样品的晶体结构和晶粒取向等关键特征。 EBSD技术的特点 EBSD技术的核心在于其能够保留SEM的常规特点的同时,利用电子回旋衍射效应对反射电子进行衍射分析,从而获得晶体学信息。 EBSD在SEM中的应用 在SEM中,当电子束入射到样品上时,与样品相互作用会产生多种
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    AEC-Q102标准是由汽车电子委员会制定的一系列严格规范,目的是确保汽车使用的电子元件能够在严酷的工作环境中保持高度的可靠性和性能稳定性。在这些规范中,锡须测试占据了至关重要的地位,它专门用来评估电子元件在预期服务寿命期间产生锡须的潜在可能性。 锡须测试对于维护汽车电子系统的安全性和可靠性是必不可少的,它帮助确保元件在面对高温、湿度和其他环境压力时不会发生故障。 什么是锡须? 锡须是电子元器件焊接表面上可能生
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    在当今时代,纳米科学因其在众多行业中引发的变革性应用,已然成为促进人类文明向前发展的重要驱动力。无论是在生物医学、能源存储还是航空宇宙领域,纳米技术都展现出了巨大的潜力和广泛的应用前景。而在这一技术革新的核心,纳米材料的探索和研究已经成为了科学研究的前沿焦点。 纳米材料的定义 纳米材料,通常指的是至少在一个维度上小于100纳米的材料,这一尺度远小于人类肉眼的分辨率。因此,对纳米材料的精确观测和研究,离不
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    邻苯二酯的定义与应用 邻苯二甲酸酯,作为化学领域的一类重要增塑剂,被大规模应用于工业生产中,以提升塑料材料的柔韧度和加工效率。这些化合物不仅在塑料制品中随处可见,也在涂料和个人护理用品中发挥着重要作用。然而,由于某些邻苯二甲酸酯可能对人体健康构成威胁,它们的使用已经受到了严格的限制。 对于出口至欧盟市场的企业而言,提供证明其产品中邻苯二甲酸酯含量达标的检测报告成为了一项常规要求。在PVC制品和涂料领域,
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    在电子制造领域,锡须是一种常见的物理现象,表现为在锡质表面自发生长的细长晶体。这些晶体类似于晶须,能在多种金属表面形成,但以锡、镉、锌等金属最为常见。锡须的形成对那些选择锡作为电路连接材料的制造商来说,是一个需要特别关注的问题。 锡须生长的根源探究 1.应力因素的探讨 锡须问题通常与电镀层内部的压缩应力有关。这种应力可能由多种因素引起,例如电镀过程中的化学反应、镀层厚度的不一致性、基底材料与锡的热膨胀系
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    安全检测认证的重要性 在电子产品的设计与制造过程中,安全性是不可忽视的核心要素。安全检测认证是确保电子产品在进入市场前满足安全标准的关键步骤。这些认证过程涵盖了模拟用户可能的使用情况,包括正常使用和异常使用,以评估产品可能带来的风险,如电击、火灾和机械伤害,并在产品出厂前通过设计预防这些风险。 国际安规体系概览 IEC:国际电工委员会,负责制定国际电工标准。UL:美国保险商实验室,提供产品安全认证。EN:欧洲
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    聚焦离子束(FIB)技术在纳米科技里很重要,它在材料科学、微纳加工和微观分析等方面用处很多。 离子源:FIB的核心部件 离子源是FIB系统的关键部分,液态金属离子源(LMIS)用得最多,特别是镓(Ga)离子源。镓的熔点低,能形成稳定的液态金属源,而且镓离子聚焦性能好,能聚焦成很细的束斑,用来精确加工和分析材料。在离子源里,金属离子被电场加速和聚焦,形成高能、高精度的离子束流。 离子束聚焦与扫描 离子束聚焦与扫描系统是FIB技
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    氩离子抛光技术凭借其独特的原理和显著的优势,在精密样品制备领域占据着重要地位。该技术以氩气为介质,在真空环境下,通过电离氩气产生氩离子束,对样品表面进行精准轰击,实现物理蚀刻,从而去除表面损伤层和不平整部分,达到高度平滑的效果。 氩离子抛光的优势 氩离子抛光的核心原理是利用氩气在真空环境下的电离特性。当氩气被引入真空腔体并施加高电压时,氩原子被电离成氩离子,形成高能离子束。这些氩离子在电场的作用下加
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    AEC-Q200认证概述化 AEC-Q200认证是由汽车电子协会(Automotive Electronics Council,简称AEC)制定的一套标准,其目的在于确保汽车电子部件的可靠性和质量。AEC是由克莱斯勒、福特和通用汽车等主要汽车制造商与美国主要部件制造商共同成立的组织,旨在为车载电子部件的可靠性和认定标准的规格化提供统一的标准。 AEC-Q200-Rev E标准更新 在2023年3月20日,AEC发布了最新的无源元件测试认证标准AEC-Q200-Rev E,这一标准的发布标志着汽车电子行业对无源元件的测试
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    引言 气相色谱-质谱联用技术(GC-MS)是一种在化学分析领域中广泛应用的高效且精确的分析方法。它结合了气相色谱的分离能力和质谱的结构识别能力,为复杂样品的分析提供了强有力的工具。 在环境科学和材料科学中,GC-MS技术尤其适用于分析多溴代阻燃剂,如六溴环十二烷(HBCDD)。这类化合物因其在环境中的持久性和生物累积性而备受关注。 准确测定HBCDD的含量对于评估环境风险和确保产品合规性具有重要意义。欧盟POPs法规,将评估过的POPs按
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    恒温试验简介 恒温试验是通过在特定温度条件下对各类材料、产品和设备进行测试,以评估其性能稳定性和可靠性的一种实验方法。恒温试验模拟了产品在实际使用中可能遇到的温度环境,是确保产品在不同环境下都能正常工作的关键手段,为产品的技术改进和性能提升提供了重要依据。 核心参数与指标 1.温度范围:试验温度通常介于-40℃至+150℃,但可根据具体需求调整。 2.温度均匀性:试验箱内温度需保持高度均匀,误差范围一般控制在±0.5℃以
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    技术原理与核心优势 聚焦离子束双束系统(FIB - SEM)是一种集成多种先进技术的高端设备,其核心构成包括聚焦离子束(FIB)模块、扫描电子显微镜(SEM)模块以及多轴样品台,这种独特的结构设计使得它能够实现加工与观测的一体化操作,极大地提高了工作效率和分析精度。 1.FIB 模块的关键作用FIB 模块采用液态金属离子源(LMIS)产生镓离子束(Ga⁺),这种镓离子束具备极高的能量和精度,能够实现纳米级的刻蚀、沉积以及样品制备等一系列微加
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    电子背散射衍射 电子背散射衍射技术(EBSD),作为一种尖端的材料分析手段,融合了扫描电子显微镜(SEM)的精细成像与电子衍射的晶体学分析技术。 电子束与样品的相互作用 在EBSD测试中,首先利用SEM产生的高能电子束照射到材料表面。当电子束与样品原子相互作用时,会产生多种信号,其中包括背散射电子。 衍射现象 电子束与样品中的晶体结构相互作用时,会发生衍射现象。衍射电子形成了一个特定的衍射花样,这个衍射花样直接反映了样品
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    电子背散射衍射(Electron Backscatter Diffraction,简称EBSD)技术是一种基于扫描电子显微镜(SEM)的显微分析技术,它能够提供材料微观结构的详细信息,包括晶体取向、晶体结构、晶界特征等。EBSD技术在材料科学领域具有广泛的应用,如相鉴定、晶体取向分析、织构分析、晶界特征研究等。 SEM原理:EBSD技术的基石 扫描电子显微镜(SEM)作为EBSD技术的根基,其工作原理在于电子束与样品的相互作用。当高能电子束轰击样品表面,会激发样品原子释放出
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    冷热冲击试验概述 冷热冲击试验是一种模拟产品在不同阶段可能遭遇的剧烈温度变化的测试手段。该试验多用于金属、塑料、橡胶和电子等行业,主要针对材料结构或复合材料,如电子产品的元器件或组件级。试验设备通常是两箱或三箱式冷热冲击试验箱,其内部有两个温区,高温区和低温区,通过不同方式实现冷热冲击效果。 快速温变试验概述 快速温变试验是环境应力筛选(ESS)的一部分,旨在通过高效方式提升产品可靠性。与冷热冲击试验不同
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    TEM的背景 1932年,Ruska的发明为这一探索带来了曙光,他以电子束为光源,发明了透射电子显微镜(TEM)。电子束的波长远比可见光和紫外光短,且与发射电子束的电压平方根成反比,电压越高,波长越短。如今,TEM的分辨力已能达到惊人的0.2纳米,为微观世界的探索提供了强大的工具。 TEM系统组件 TEM系统由多个关键部件组成,协同工作以实现高分辨率的成像。电子枪是发射电子的核心部件,由阴极、栅极和阳极构成。阴极管发射的电子通过栅极的小
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    化学特性与物理性质 六溴环十二烷,也被称作HBCD或HBCDD,其化学式为C12H18Br6,分子量达到642克/摩尔,表现为一种白色晶体。这种化合物存在多种结构异构体,其中低熔点异构体的熔点介于167至168摄氏度,而高熔点异构体的熔点则在195至196摄氏度之间。 HBCD展现出对热和紫外线的出色稳定性,其溴含量高达74.7%,并且能够溶解于甲醇、乙醇、丙酮、醋酸戊酯等多种有机溶剂中。在加热条件下,HBCD从170摄氏度开始释放溴化氢,而当温度升至190摄氏度时,
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    AEC-Q102认证及其在汽车电子中的重要性 AEC-Q102认证是汽车行业中一项关键的质量与可靠性标准,专门针对分立光电器件产品。这一认证确保了汽车零部件在极端环境下的稳定性和安全性,从而提升整车的性能和可靠性。 图1:AEC-Q102-Rev A标准 AEC-Q102认证的背景 AEC-Q102标准由汽车电子委员会(Automotive Electronics Council,简称AEC)制定,旨在验证光电器件在车辆应用中的可靠性和寿命。2020年4月6日,AEC发布了AEC-Q102-Rev A标准,取代了2017年3月的旧版标准。这一
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    聚焦离子束(Focused Ion Beam,简称 FIB)技术,宛如一把纳米尺度的“万能钥匙”,在材料加工、分析及成像领域大放异彩。它凭借高度集中的离子束,精准操控离子束与样品表面的相互作用,实现纳米级别的精细操作,为众多学科和工业领域带来了前所未有的机遇。 核心构成 FIB 系统的核心在于离子束的生成与调控。生成用于撞击样品的离子束,其中最为普遍的离子源类型为液态金属离子源,尤其是采用液态镓作为原料。 接下来是加速与偏转机制,该
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    光电耦合器,通常称为光耦,是一种在电子设计中用于实现电气隔离的关键组件。它通过将发光元件(如发光二极管LED)与光敏元件(如光敏三极管)封装在同一管体内,利用光信号在两者之间传递信息,从而完成电信号到光信号,再由光信号转回电信号的过程。这种转换不仅实现了信号的传输,还因为光信号的介入,提供了电路间的电气隔离,有效避免了信号干扰和地电位差问题,增强了系统的稳定性和安全性。 工作原理 在光电耦合器的内部,发
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    RoHS指令详解 RoHS(限制特定有害物质)是欧盟为降低电子和电气设备中有害物质含量而实施的一项法规。该指令的主要目的是限制六种有害物质的使用,以减少对环境和人类健康的影响。 铅(Pb):不得超过0.1%(1000ppm),常见用途包括焊料、玻璃和PVC稳定剂。 汞(Hg):不得超过0.1%(1000ppm),用于温控器、传感器等。 镉(Cd):不得超过0.01%(100ppm),用于开关、弹簧等。 六价铬(Cr 6+):不得超过0.1%(1000ppm),用于金属防腐蚀涂层。 多溴联苯(
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    热膨胀系数测试是材料科学领域内一项至关重要的实验技术。 热膨胀系数测试的原理 热膨胀系数是衡量材料在温度变化时尺寸(长度或体积)相对变化量的物理指标,具体定义为:当温度升高1 K时,材料尺寸相对于其原始尺寸的增量比例。 固体材料的热膨胀本质在于,随着温度升高,其点阵结构中质点间的平均距离逐渐增大。根据简谐振动理论,温度的改变仅影响质点振动的振幅,而不改变其平衡位置。实际上,材料的热膨胀源自原子非简谐振动的
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    氩离子抛光技术作为一种前沿的材料表面处理手段,凭借其高效能与精细效果的结合,为众多领域带来了突破性的解决方案。它通过低能量离子束对材料表面进行精准加工,不仅能够快速实现抛光效果,还能在微观尺度上保留样品的原始结构和特性。 抛光系统核心 氩离子抛光系统的核心在于其先进的离子枪设计。该系统配备了两个低能量聚集能力的离子枪,能够在极低的能量水平(低至100eV)下进行抛光,这使得它特别适合对精细样品进行处理。这
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    氩离子束抛光技术(Argon Ion Beam Polishing, AIBP),一种先进的材料表面处理工艺,它通过精确控制的氩离子束对样品表面进行加工,以实现平滑无损伤的抛光效果。 技术概述 氩离子束抛光技术利用氩离子束对样品表面进行物理溅射,从而达到抛光的效果。在这个过程中,氩气作为惰性气体,不会与样品发生化学反应,保证了样品的原始性质不被破坏。通过精确控制离子束的能量、角度和作用时间,可以去除样品表面的损伤层,暴露出材料的真实结构。
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    浪涌电流的定义 浪涌电流是指电路在开启瞬间吸收的最大电流,通常出现在输入波形的几个周期内。其值远高于电路的稳态电流,这种高电流可能会对设备造成损坏,甚至触发断路器。浪涌电流常见于所有包含磁芯的设备中,例如变压器、工业电压设备等。 浪涌的产生原因 1.电力系统开关瞬态 1)主要的电力系统切换骚扰,例如电容器组的切换,电容瞬间放电或者充电; 2)配电系统中较小的局部开关动作或者负载变化; 3)与开关器件有关的谐振现
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    芯片开封的定义 芯片开封,即Decap,是一种对完整封装的集成电路(IC)芯片进行局部处理的工艺。其目的是去除芯片的封装外壳,暴露出芯片内部结构,同时确保芯片功能不受损。芯片开封是芯片故障分析实验的重要准备环节,能够保护芯片的Die、bond pads、bond wires及lead等关键部分,为后续的失效分析测试提供便利,便于进行热点定位、聚焦离子束(FIB)等测试操作。 芯片开封的方法 1.激光开封激光开封是利用激光束的能量作用于芯片塑封表面,通
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    光耦合器在开关电源中的重要性 光耦合器,作为一种电子元件,其在开关电源设计中扮演着至关重要的角色,主要负责实现电路间的电气隔离,以确保电路的稳定性和安全性。 光耦合器的分类 1.非线性光耦 非线性光耦,例如4N系列,其电流传输特性曲线呈现出明显的非线性,这使得它们在传输开关信号时表现出色,但在模拟信号传输方面则不太适用。 2.线性光耦 相对地,线性光耦,如PC817A系列,其电流传输特性曲线接近线性,即使在小信号传输时也
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    扫描透射电子显微镜(STEM) 扫描透射电子显微镜(STEM)是一种融合了透射电子显微镜(TEM)和扫描电子显微镜(SEM)部分特点的先进显微技术。它借助电子束在样品表面进行扫描,利用电子穿透样品来实现成像。该技术对操作环境和设备要求较高,需要维持极高真空度,其电子学系统也比TEM和SEM更为复杂,这使得STEM在硬件配置和操作维护方面都面临一定挑战,但同时也为其提供了独特的性能优势。 扫描透射电镜的原理 扫描透射电子显微镜通过高能
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    SEM技术及其在陶瓷电阻分析中的作用 扫描电子显微镜(SEM)是一种强大的微观分析工具,能够提供高分辨率的表面形貌图像。通过SEM测试,可以清晰地观察到陶瓷电阻表面的微观结构和形态特征,从而评估其质量。 例如,可以判断陶瓷电阻表面是否存在缺陷、裂纹或污染等问题。这些表面特征对陶瓷电阻的性能有着直接的影响,因此SEM在陶瓷电阻的质量控制和性能优化中发挥着重要作用。 氩离子截面技术及其优势 氩离子截面技术利用氩离子束对材
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    近年来,聚焦离子束(Focused Ion Beam,FIB)技术作为一种新型的微分析和微加工技术,在元器件可靠性领域得到了广泛应用,为提高元器件的可靠性提供了重要的技术支持。 元器件可靠性的重要性 目前,国内外元器件级可靠性质量保证技术主要包括元器件补充筛选试验、破坏性物理分析(DPA)、结构分析(CA)、失效分析(FA)以及应用验证等。其中,结构分析是近年来逐渐推广的新型技术,它可以从材料和生产工艺等方面对元器件进行深入分析,为
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    电气设备在现代生产中的广泛应用极大地提升了生产效率,但同时也带来了潜在的安全风险。触电事故和电气火灾的发生,使得电气设备的安全性成为产品质量的首要考量因素。 耐压测试 耐压测试,也称为介电强度测试,是一种用于检验电气设备绝缘强度的重要手段。它通过施加高于设备正常工作电压的高电压,模拟设备在极端情况下的运行状态,从而检测绝缘材料是否能够承受正常工作电压以及短时过电压的冲击。耐压测试的主要目的是发现绝缘
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    美国《有毒物质控制法》(TSCA)自1976年由国会颁布以来,一直是美国管理化学物质的关键法规。该法案由美国环保署(EPA)负责实施,其核心目标是综合评估化学物质对环境、经济和社会的潜在影响,以预防对人体健康和环境造成的“不合理风险”。 TSCA的立法背景 TSCA的立法过程始于1971年,当时美国环境质量委员会(CEQ)向联邦政府提交了一份报告,指出美国法律在防范损害发生方面存在空白,仅关注损害发生后的处理。随后,参议院和众议院在19
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    IGBT在电力电子中的关键作用 在当今的电力电子技术中,绝缘栅双极晶体管(IGBT)已成为不可或缺的核心组件。这种器件以其出色的性能,在变频器、电动汽车、可再生能源系统等高功率应用中发挥着关键作用。IGBT融合了MOSFET的高输入阻抗特性和BJT的高电流承载能力,使其在功率控制领域脱颖而出。 IGBT驱动光耦的原理 IGBT驱动光耦是一种基于光信号实现输入与输出电气隔离的半导体器件。它由发光二极管(LED)和光电晶体管或光电三极管组成。当LED

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